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Fujiwork富士 薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀 HKT-Master0.01AAL 如果要測量的物體很大，建議這樣做。 這是HKT-Master0.01AA的大型舞臺版本。 *除測量支架外的產(chǎn)品規(guī)格與HKT-Master0.01AA相同。 測量臺 石面板型 尺寸 約 200mm 長 x 150mm 寬 x 300mm 高

Fujiwork富士 薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀 HKT-Master0.1BB 也可使用電池的緊湊型厚度測量裝置 一種通過保持測量頭的下降速度恒定來消除測量者的測量偏差的測量裝置 測量分辨率 0.1μm 測量范圍 500μm 探頭 R30 硬質(zhì)合金球面

Fujiwork富士 薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀 HKT-Master0.1BD 一種通過保持測量頭的下降速度恒定來消除測量者的測量偏差的測量裝置 測量分辨率 0.1μm 測量范圍 500μm 探頭 R30 硬質(zhì)合金球面

Fujiwork富士 薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀 HKT-Master0.01BB 一種通過保持測量頭的下降速度恒定來消除測量者的測量偏差的測量裝置。 舒適、準確地測量超薄膜。 測量分辨率 0.01μm 測量范圍 200μm 探頭 R30 硬質(zhì)合金球面

Fujiwork富士 薄膜測厚儀 連續(xù)厚度測量儀 HKT-Master0.01AA 一種通過保持測量頭的下降速度恒定來消除測量者的測量偏差的測量裝置 舒適、準確地測量超薄膜 測量分辨率：0.01μm 測量范圍：500μm 探頭 R30 硬質(zhì)合金球 測量力：0.14N